本發(fā)明提供一種半導體存儲裝置的修復電路,所述修復電路包括:修復地址檢測電路,基于從存儲模塊輸出的多個測試數(shù)據(jù)信號來確定在所述存儲模塊中的失效的發(fā)生,并儲存與被確定為失效的存儲模塊相對應的地址作為修復地址;以及反熔絲電路,接收來自所述修復地址檢測電路的所述修復地址,并將所述修復地址電編程來儲存編程地址。
聲明:
“半導體存儲裝置的修復電路和修復方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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