本發(fā)明的長(zhǎng)壽命、高可靠電子產(chǎn)品可靠性評(píng)估方法包括以下步驟：尋找電子產(chǎn)品的最薄弱功能模塊；設(shè)計(jì)加速退化試驗(yàn)；數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析；以及確定可靠性模型；所述數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析具體為：通過數(shù)據(jù)折算將步進(jìn)加速退化數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化成恒定應(yīng)力加速退化數(shù)據(jù)；利用恒定應(yīng)力加速退化數(shù)據(jù)擬合得到性能退化軌跡；根據(jù)性能失效閾值和性能退化軌跡得到偽失效壽命，將每個(gè)應(yīng)力水平所對(duì)應(yīng)的偽失效壽命數(shù)據(jù)進(jìn)行分布假設(shè)檢驗(yàn)，以確定偽失效壽命數(shù)據(jù)服從的分布函數(shù)；確定加速模型。本發(fā)明的長(zhǎng)壽命、高可靠電子產(chǎn)品可靠性評(píng)估方法解決了試驗(yàn)樣本短缺，試驗(yàn)時(shí)間有限的問題，有效提高了電子產(chǎn)品的試驗(yàn)效率，同時(shí)縮短了電子產(chǎn)品的可靠性評(píng)估時(shí)間。