本發(fā)明公開一種基于MooN架構(gòu)獲取定期試驗周期的計算方法,將N個通道的正常狀態(tài)與失效狀態(tài)進(jìn)行不同組合,以得到N個通道中N-M+1個通道失效的系統(tǒng)失效組合,其中,假設(shè)每個通道的失效率λ相同,針對安全系統(tǒng)的定期試驗周期為T,定期試驗帶來的風(fēng)險降低為Q,利用上述設(shè)定通過對通道的組合方式分析得到的結(jié)果,與T進(jìn)行比較,當(dāng)兩者接近時即可得到待測系統(tǒng)的定期試驗周期。本發(fā)明根據(jù)通用可靠性理論和核電中關(guān)于定期試驗周期的計算方法,解決了在不同的試驗策略下,不同的符合邏輯情況下的通用邏輯符合結(jié)構(gòu)進(jìn)行初始試驗周期的確定方法,本發(fā)明思路方法明確,公式統(tǒng)一,能夠適用于所有的邏輯結(jié)構(gòu)。
聲明:
“基于MooN架構(gòu)獲取定期試驗周期的計算方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)