為了解決現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明提供一種時(shí)鐘樹綜合最優(yōu)策略預(yù)測(cè)方法、系統(tǒng)及應(yīng)用，包括：利用粒子群優(yōu)化算法對(duì)待用芯片的時(shí)鐘樹進(jìn)行最優(yōu)化處理，獲得最優(yōu)設(shè)計(jì)方案；通過采集腳本，記錄針對(duì)所述待用芯片的普通設(shè)計(jì)方案以及所述最優(yōu)設(shè)計(jì)方案的設(shè)計(jì)信息數(shù)據(jù)構(gòu)成總設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)集；設(shè)置神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型，并利用所述神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型對(duì)所述總設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)集進(jìn)行學(xué)習(xí)，訓(xùn)練所述神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型，得到訓(xùn)練后模型；利用所述訓(xùn)練后模型，對(duì)所述時(shí)鐘樹綜合最優(yōu)策略進(jìn)行預(yù)測(cè)。本發(fā)明通過機(jī)器學(xué)習(xí)算法建立時(shí)鐘樹綜合最優(yōu)策略的預(yù)測(cè)模型，可以大大縮短芯片的設(shè)計(jì)周期，同時(shí)降低因時(shí)鐘樹綜合結(jié)果不理想而帶來的芯片失效風(fēng)險(xiǎn)。