本發(fā)明涉及用于集成電路硬件設(shè)計(jì)的故障注入測(cè)試的方法和系統(tǒng)。該方法包括：(a)接收識(shí)別所述硬件設(shè)計(jì)的一個(gè)或多個(gè)故障節(jié)點(diǎn)的原始故障節(jié)點(diǎn)列表；(b)接收指示所述原始故障節(jié)點(diǎn)列表中的故障節(jié)點(diǎn)分組成多個(gè)故障節(jié)點(diǎn)組的信息，每個(gè)故障節(jié)點(diǎn)組包括對(duì)所述硬件設(shè)計(jì)的失效模式具有相同影響的故障節(jié)點(diǎn)；(c)基于所述故障節(jié)點(diǎn)組生成最終故障節(jié)點(diǎn)列表；(d)從所述最終故障節(jié)點(diǎn)列表選擇一組故障注入?yún)?shù)，所述一組故障注入?yún)?shù)識(shí)別所述最終故障節(jié)點(diǎn)列表中要發(fā)生故障的至少一個(gè)故障節(jié)點(diǎn)；(e)基于所選擇的一組故障注入?yún)?shù)，通過使故障注入到所述硬件設(shè)計(jì)的仿真中，對(duì)所述硬件設(shè)計(jì)執(zhí)行故障注入測(cè)試；(f)確定所述故障注入測(cè)試的結(jié)果。