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非易失存儲器耐久力物理數(shù)據(jù)模型測試方法

937   編輯:管理員   來源:中冶有色技術(shù)網(wǎng)  
2023-03-19 09:00:33
本發(fā)明公開了一種消除高安全智能卡芯片數(shù)據(jù)加解密對非易失存儲器可靠性測試影響的方法。針對數(shù)據(jù)加密后寫入存儲器的物理數(shù)據(jù)與編程預(yù)期數(shù)據(jù)不一致,在測試COS中嵌入預(yù)加解密函數(shù),對數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)加解密處理,保證寫入存儲器的物理數(shù)據(jù)與預(yù)期數(shù)據(jù)一致。本發(fā)明提出的非易失存儲器物理數(shù)據(jù)模型測試方法,能夠覆蓋典型物理失效模式,有效地考核高安全智能卡芯片中非易失存儲器的本征可靠性水平。
聲明:
“非易失存儲器耐久力物理數(shù)據(jù)模型測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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