本發(fā)明提出了一種內(nèi)存電壓拉偏測試系統(tǒng),該內(nèi)存電壓拉偏測試系統(tǒng)包括:電源模塊、降壓轉(zhuǎn)換器模塊、PMU模塊、內(nèi)存模塊,其中,降壓轉(zhuǎn)換器模塊,分別與電源模塊和內(nèi)存模塊連接,用于將電源模塊的輸入電壓降壓轉(zhuǎn)換為第一電壓,并且將第一電壓輸出至內(nèi)存模塊;PMU模塊,與降壓轉(zhuǎn)換器模塊連接,用于調(diào)節(jié)第一電壓。本發(fā)明通過PMU模塊調(diào)節(jié)電壓轉(zhuǎn)換器的輸出電壓,從而提高了電壓拉偏的精度,也避免了人工重復修改反饋電阻造成的精度不高的問題,同時該測試也提高了內(nèi)存測試的可靠性和穩(wěn)定性測試,也避免后期服務器產(chǎn)品因電壓問題導致內(nèi)存失效的情況。
聲明:
“內(nèi)存電壓拉偏測試系統(tǒng)” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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