本發(fā)明涉及涂層壽命預(yù)測技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種涂層壽命預(yù)測方法、系統(tǒng)、計算機設(shè)備和存儲介質(zhì),所述方法包括根據(jù)涂層失效閾值時間與涂層厚度之間的第一表達(dá)關(guān)系,確定不同類別的有機涂層的第一參數(shù)和第二參數(shù);根據(jù)有機涂層在太陽輻照下的輻照強度和輻照時間,得到引起所述有機涂層老化降解的有效輻照量;根據(jù)所述有效輻照量,得到所述有機涂層的厚度變化與所述有效輻照量之間的第二表達(dá)關(guān)系;根據(jù)所述第二表達(dá)關(guān)系對所述第一表達(dá)關(guān)系進(jìn)行修正,得到所述有機涂層的服役壽命。本發(fā)明的方法理論推導(dǎo)簡單,模型基礎(chǔ)扎實,能夠準(zhǔn)確高效的預(yù)測有機涂層服役壽命,從而為有機涂料的應(yīng)用提供有效指導(dǎo)。
聲明:
“涂層壽命預(yù)測方法、系統(tǒng)、計算機設(shè)備和存儲介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)