本實(shí)用新型公開(kāi)了一種測(cè)溫組件,解決了現(xiàn)有技術(shù)中與熱敏電阻連接的導(dǎo)線其U型折彎部分變形較大而出現(xiàn)傳導(dǎo)不良甚至斷路失效的技術(shù)問(wèn)題,本實(shí)用新型的測(cè)溫組件,包括測(cè)試桿、測(cè)溫帽和薄膜熱敏電阻,所述薄膜熱敏電阻包括電阻本體、導(dǎo)線以及包覆在所述電阻本體外側(cè)的絕緣片,所述測(cè)試桿設(shè)有中心通孔,所述導(dǎo)線包括呈U型的折彎段和貫穿所述中心通孔的引出段,所述折彎段的一端與所述電阻本體連接,另一端與所述引出段連接,所述測(cè)試桿的頂部設(shè)有避讓槽,所述折彎段位于所述避讓槽內(nèi)。
聲明:
“測(cè)溫組件” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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