本發(fā)明公開了一種智能卡EEPROM的測(cè)試方法,是采用如下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的:以不同EEPROM存儲(chǔ)單元的數(shù)據(jù)背景,逐一進(jìn)行存儲(chǔ)單元數(shù)據(jù)測(cè)試,實(shí)現(xiàn)對(duì)包括EEPROM地址線粘連、數(shù)據(jù)線粘連和單元字節(jié)錯(cuò)誤在內(nèi)的EEPROM常見失效的測(cè)試,對(duì)EEPROM連續(xù)多頁(yè)擦寫壓力測(cè)試。本發(fā)明能夠快速、全面的對(duì)智能卡EEPROM進(jìn)行測(cè)試。
聲明:
“智能卡EEPROM的測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)