亚洲欧美国产精品粉嫩|亚洲精品精品无码专区|国产在线无码精品电影网|午夜无码久久久久久国产|亚洲国产精品一区二区动图|国产在线精品一区在线观看|欧美伊人久久久久久久久影院|中文字幕日韩av在线一区二区

合肥金星智控科技股份有限公司
宣傳

位置:中冶有色 >

有色技術頻道 >

> 失效分析技術

> 存儲芯片性能的測試方法和裝置

存儲芯片性能的測試方法和裝置

825   編輯:管理員   來源:中冶有色技術網(wǎng)  
2023-03-19 09:00:23
本發(fā)明公開了一種存儲芯片性能的測試方法及裝置。該方法包括:向待測試存儲芯片執(zhí)行設定數(shù)量的全盤寫入和讀取操作;在全盤寫入的過程中,對待測試存儲芯片所包括的每個存儲單元,進行擦除次數(shù)計數(shù)并記錄;在全盤讀取之后,將讀取數(shù)據(jù)與寫入數(shù)據(jù)進行比對,以記錄每個存儲單元的錯誤位數(shù);在全盤寫入和讀取的過程中,記錄寫入性能參數(shù)和讀取性能參數(shù);重復執(zhí)行上述測試過程,直至所述待測試存儲芯片老化失效。通過本發(fā)明的技術方案,能夠對存儲芯片的老化性能進行有效測試。
聲明:
“存儲芯片性能的測試方法和裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
分享 0
         
舉報 0
收藏 0
反對 0
點贊 0
標簽:
失效分析
全國熱門有色金屬技術推薦
展開更多 +

 

中冶有色技術平臺

最新更新技術

報名參會
更多+

報告下載

第二屆中國微細粒礦物選礦技術大會
推廣

熱門技術
更多+

衡水宏運壓濾機有限公司
宣傳
環(huán)磨科技控股(集團)有限公司
宣傳

發(fā)布

在線客服

公眾號

電話

頂部
咨詢電話:
010-88793500-807
專利人/作者信息登記