本發(fā)明公開了一種存儲
芯片性能的測試方法及裝置。該方法包括:向待測試存儲芯片執(zhí)行設定數(shù)量的全盤寫入和讀取操作;在全盤寫入的過程中,對待測試存儲芯片所包括的每個存儲單元,進行擦除次數(shù)計數(shù)并記錄;在全盤讀取之后,將讀取數(shù)據(jù)與寫入數(shù)據(jù)進行比對,以記錄每個存儲單元的錯誤位數(shù);在全盤寫入和讀取的過程中,記錄寫入性能參數(shù)和讀取性能參數(shù);重復執(zhí)行上述測試過程,直至所述待測試存儲芯片老化失效。通過本發(fā)明的技術方案,能夠對存儲芯片的老化性能進行有效測試。
聲明:
“存儲芯片性能的測試方法和裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)