一種非致冷半導(dǎo)體激光器的老化測(cè)試系統(tǒng)，所述測(cè)試接口板與控制板連接，所述控制板的輸出端與顯示器連接；所述控制板包括ADC芯片，MCU控制器和為非制冷半導(dǎo)體激光器供電的可調(diào)驅(qū)動(dòng)電路，所述測(cè)試接口板與所述可調(diào)驅(qū)動(dòng)電路連接，所述ADC芯片采集所述可調(diào)驅(qū)動(dòng)電路的電壓信號(hào)，并轉(zhuǎn)為數(shù)字信號(hào)傳遞到MCU控制器的輸入端，所述MCU控制器將所述數(shù)字信號(hào)進(jìn)行處理并通過輸出端與顯示器連接。本實(shí)用新型是為了提高非制冷半導(dǎo)激光器的可靠性和穩(wěn)定性而設(shè)計(jì)的一種老化測(cè)試系統(tǒng)。在高100℃環(huán)境下，通過上電老化測(cè)試，給非制冷半導(dǎo)體激光器提供一個(gè)穩(wěn)定的受控電流，并實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)激光器的實(shí)際工作電流，以達(dá)到可靠性篩選的目的，將早期失效產(chǎn)品濾除。