本實用新型公開了一種智能卡測試設(shè)備,主要針對智能卡在生產(chǎn)和使用過程中,可能存在的物理結(jié)構(gòu)被破壞或數(shù)據(jù)異常丟失等失效現(xiàn)象而提出的一種測試設(shè)備。該設(shè)備實現(xiàn)現(xiàn)有測試方案中所沒有描述的測試項目,能夠同時對智能卡進行帶電老化壽命、金屬面耐磨強度兩個項目進行測試。該設(shè)備所包括的主要結(jié)構(gòu)如下:直流電源系統(tǒng);機械運動結(jié)構(gòu);夾卡裝置;智能卡讀卡結(jié)構(gòu)。本實用新型提出的智能卡的測試設(shè)備,對智能卡可靠性進行嚴格地考核,能夠提前發(fā)現(xiàn)由于智能卡結(jié)構(gòu)和系統(tǒng)設(shè)計可靠性問題而導(dǎo)致的生產(chǎn)測試成品率的低下,或者智能卡內(nèi)所存儲的數(shù)據(jù)易丟失等問題。
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“智能卡測試設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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