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對同步動態(tài)隨機存儲器自測試的方法及其裝置

780   編輯:管理員   來源:中冶有色技術網(wǎng)  
2023-03-19 09:00:22
一種對同步動態(tài)隨機存儲器自測試的方法及其裝置,在系統(tǒng)正常工作之前對SDRAM進行自測試,其方法為:啟動同步動態(tài)隨機存儲器SDRAM自測試,系統(tǒng)切換到自測試模式下;CPU將數(shù)據(jù)寫入自測試模塊的第一雙端口RAM;仲裁模塊從所述第一雙端口RAM中讀取數(shù)據(jù)并寫入SDRAM;仲裁模塊從SDRAM中回讀數(shù)據(jù)并寫入自測試模塊的第二雙端口RAM中;CPU從所述第二雙端口RAM中讀數(shù)據(jù),并對寫入和讀出的數(shù)據(jù)進行比較,以判斷SDRAM是否工作正常;在自測試工作完成后,系統(tǒng)切換到正常工作模式下,實現(xiàn)業(yè)務的恢復。本發(fā)明增加了系統(tǒng)的可靠性,并且通過對SDRAM進行自測試可以判斷SDRAM是否失效,從而增加系統(tǒng)的可維護性。另外,邏輯實現(xiàn)也比較簡單,不額外增加系統(tǒng)的復雜度。
聲明:
“對同步動態(tài)隨機存儲器自測試的方法及其裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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