本發(fā)明涉及一種LED光源壽命加速測試系統(tǒng)及方法,其中該系統(tǒng)包括樣品分組裝置、第一結(jié)溫測試裝置、加溫裝置、第二結(jié)溫測試裝置、壽命測算裝置和加溫測試裝置。本發(fā)明在保持驅(qū)動電源失效機理不變的條件下,通過提高其工作溫度應(yīng)力的方法來加速失效發(fā)現(xiàn)其潛在的缺陷,并根據(jù)阿氏加速理論中的加速壽命試驗?zāi)P图耙胫眯哦韧茢喑銎湓谡囟葢?yīng)力水平下壽命,比傳統(tǒng)的設(shè)計和試驗以快得多的速度使產(chǎn)品達到在設(shè)計和工藝上成熟,從而縮短研制過程總時間,得以早日投放市場,搶占市場份額,產(chǎn)品設(shè)計和工藝成熟快,產(chǎn)品研制和生產(chǎn)成本更低。
聲明:
“LED光源加速壽命測試系統(tǒng)及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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