本發(fā)明公開(kāi)了一種存儲(chǔ)器的測(cè)試方法，所述存儲(chǔ)器具有n個(gè)測(cè)試項(xiàng)目，所述測(cè)試方法包括對(duì)測(cè)試項(xiàng)目i進(jìn)行N次判斷，其中，1≤i≤n，1≤N≤100，且i和N均為整數(shù)；當(dāng)i小于n時(shí)，若對(duì)所述測(cè)試項(xiàng)目i的第N次判斷結(jié)果為合格，則進(jìn)入測(cè)試項(xiàng)目i+1的測(cè)試；當(dāng)i等于n時(shí)，若對(duì)所述測(cè)試項(xiàng)目i的第N次判斷結(jié)果為合格，則判斷所述存儲(chǔ)器為合格品；當(dāng)N小于100時(shí)，若對(duì)所述測(cè)試項(xiàng)目i的第N次判斷結(jié)果為失效，則進(jìn)行對(duì)所述測(cè)試項(xiàng)目i的第N+1次判斷；當(dāng)N等于100時(shí)，若對(duì)所述測(cè)試項(xiàng)目i的第N次判斷結(jié)果為失效，則判斷所述存儲(chǔ)器為不合格品。這樣的測(cè)試方法可以大幅度提高測(cè)試穩(wěn)定性，大大降低誤判率，從而提高產(chǎn)品良率。