本申請(qǐng)涉及一種暴露產(chǎn)品薄弱環(huán)節(jié)測(cè)試方案的確定方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。方法包括：獲取目標(biāo)產(chǎn)品的各組成部件，并確定與各組成部件分別對(duì)應(yīng)的失效模式；確定與各失效模式分別對(duì)應(yīng)的應(yīng)力類型以及破壞程度等級(jí)；統(tǒng)計(jì)各應(yīng)力類型分別對(duì)應(yīng)的破壞程度總等級(jí)；依據(jù)各應(yīng)力類型和各破壞程度總等級(jí)，確定測(cè)試方案；測(cè)試方案包括應(yīng)力測(cè)試模式和應(yīng)力測(cè)試順序。本方法中的測(cè)試方案是針對(duì)目標(biāo)產(chǎn)品的特性確定出的，因此按照本方法確定出的測(cè)試方案對(duì)目標(biāo)產(chǎn)品進(jìn)行薄弱環(huán)節(jié)激發(fā)測(cè)試，能夠全面準(zhǔn)確地暴露產(chǎn)品的薄弱環(huán)節(jié)。