本發(fā)明提供了一種運(yùn)行壽命建模方法及運(yùn)行壽命預(yù)測方法,運(yùn)行壽命建模方法包括以下步驟:獲取t個(gè)待測試功率模塊,并對每一待測試功率模塊通電使得待測試功率模塊于同一測試電流下形成具有期望結(jié)溫差值的結(jié)溫波動(dòng);持續(xù)對每一待測試功率模塊通電直至每一待測試功率模塊損壞,記錄每一待測試功率模塊自測試起至損壞的通電次數(shù),并以通電次數(shù)為X軸,累計(jì)失效率為Y軸建立韋布爾概率分布圖;選取韋布爾概率分布圖中累計(jì)失效率為m%的測試點(diǎn),并提取測試點(diǎn)的通電次數(shù)為壽命值;將壽命值和結(jié)溫差值代入壽命模型,以擬合出一壽命模型曲線。采用上述技術(shù)方案后,可適用于各類封裝的功率模塊并適用于各種應(yīng)用場景,且所建立的模型具有更強(qiáng)的針對性。
聲明:
“功率模塊的運(yùn)行壽命建模方法及運(yùn)行壽命預(yù)測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)