本發(fā)明提供一種存儲(chǔ)器裝置及其內(nèi)置自測(cè)試方法,所述存儲(chǔ)器裝置包括自測(cè)試電路、存儲(chǔ)單元陣列、電源電壓產(chǎn)生器與列冗余地址替換電路。自測(cè)試電路,用以產(chǎn)生自測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)與電源電壓控制信號(hào)。存儲(chǔ)單元陣列接收自測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)并輸出自測(cè)試失效信號(hào)。電源電壓產(chǎn)生器依據(jù)電源電壓控制信號(hào)產(chǎn)生電源電壓。列冗余地址替換電路接收電源電壓與自測(cè)試失效信號(hào)以提供冗余字線地址至存儲(chǔ)單元陣列。電源電壓產(chǎn)生器被配置為使電源電壓在內(nèi)置自測(cè)試模式小于一般模式。
聲明:
“存儲(chǔ)器裝置及其內(nèi)置自測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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