本發(fā)明提供一種單元壽命服從威布爾分布時(shí)k/n(G)系統(tǒng)的剩余壽命預(yù)測(cè)方法,首先隨機(jī)抽取N個(gè)k/n(G)系統(tǒng)組成單元的樣品進(jìn)行壽命試驗(yàn),獲得各樣品的失效時(shí)間,估計(jì)各樣本的失效時(shí)間的失效概率;基于水平誤差函數(shù)計(jì)算k/n(G)系統(tǒng)組成單元壽命分布參數(shù)的點(diǎn)估計(jì);根據(jù)k/n(G)系統(tǒng)組成單元壽命分布參數(shù)的點(diǎn)估計(jì)預(yù)測(cè)k/n(G)系統(tǒng)的剩余壽命。本發(fā)明通過上述步驟很好地解決了單元壽命服從威布爾分布時(shí)k/n(G)系統(tǒng)的剩余壽命預(yù)測(cè)問題,且步驟簡(jiǎn)單,結(jié)果清晰,易于操作。
聲明:
“單元壽命服從威布爾分布時(shí)k/n(G)系統(tǒng)的剩余壽命預(yù)測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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