本發(fā)明公開了一種利用半導體測試儀讀取
芯片信息的方法,序列圖形發(fā)生器產(chǎn)生圖形值并寫入圖形真值表中,數(shù)據(jù)比較器根據(jù)圖形值輸出X結(jié)果到數(shù)據(jù)失效存儲器,輸出Y結(jié)果到數(shù)據(jù)失效存儲器;通過測試程序設置數(shù)據(jù)選擇器,設定數(shù)字采集器各比特位與芯片測試通道的鏈接;再把數(shù)據(jù)失效存儲器中的X結(jié)果、Y結(jié)果值通過數(shù)字采集器中的異或邏輯門生成數(shù)字采集器的采集使能信號,用來控制將H結(jié)果或L結(jié)果值傳入數(shù)字采集器的存儲器中同該芯片測試通道對應的存儲區(qū)間;最后通過后臺處理將數(shù)字采集器存儲器中的數(shù)據(jù)傳入指定的數(shù)組變量中。通過本發(fā)明的方法可以利用半導體測試儀同時對多顆芯片的信息進行讀出操作,并節(jié)省測試時間。
聲明:
“利用半導體測試儀讀取芯片信息的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)