本發(fā)明提供了一種半導(dǎo)體集成電路及其測(cè)試方法。編程電路在第一編程單元被編程時(shí)激活通過信號(hào)。當(dāng)內(nèi)部電路的測(cè)試通過時(shí),第一編程單元被編程。通過外部控制,模式設(shè)置電路將運(yùn)行模式轉(zhuǎn)換為正常運(yùn)行模式或者測(cè)試模式。當(dāng)通過信號(hào)在正常運(yùn)行模式期間被失活時(shí),狀態(tài)機(jī)允許內(nèi)部電路的部分電路執(zhí)行不同于正常操作的異常操作。通過在正常運(yùn)行模式期間識(shí)別異常操作,可以容易地識(shí)別出半導(dǎo)體集成電路是壞的。由于無需轉(zhuǎn)換到測(cè)試模式就可以識(shí)別失效,因此例如購(gòu)買半導(dǎo)體集成電路的用戶也可以容易地識(shí)別出失效。
聲明:
“半導(dǎo)體集成電路及其測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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