本發(fā)明為一種存儲(chǔ)器輻照測(cè)試方法以及實(shí)現(xiàn)該方法的裝置,其包括:輻射源、電平轉(zhuǎn)換電路、主控單元、數(shù)據(jù)輸入單元以及系統(tǒng)配置和處理單元。用以實(shí)現(xiàn)對(duì)存儲(chǔ)器件的動(dòng)態(tài)輻照測(cè)試,首先進(jìn)行初始化操作,對(duì)至少一被測(cè)存儲(chǔ)器件寫(xiě)入指定數(shù)據(jù),然后開(kāi)啟輻射源對(duì)被測(cè)存儲(chǔ)器件進(jìn)行規(guī)定強(qiáng)度、規(guī)定距離、規(guī)定時(shí)間的輻照;在測(cè)試過(guò)程中根據(jù)特定的讀寫(xiě)模式向所述被測(cè)存儲(chǔ)器件讀出數(shù)據(jù)/寫(xiě)入數(shù)據(jù);實(shí)時(shí)的將被測(cè)存儲(chǔ)器件的實(shí)際輸出值和預(yù)期值進(jìn)行對(duì)比,判斷其是否正確;一旦出現(xiàn)錯(cuò)誤數(shù)據(jù),立刻記錄其失效信息;一次實(shí)驗(yàn)就能找到被測(cè)存儲(chǔ)器件失效的臨界點(diǎn)。從而達(dá)到整個(gè)過(guò)程都在同步動(dòng)態(tài)記錄,減少了實(shí)驗(yàn)次數(shù),節(jié)約測(cè)試成本的目的。
聲明:
“存儲(chǔ)器輻照測(cè)試方法以及實(shí)現(xiàn)該方法的裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)