亚洲欧美国产精品粉嫩|亚洲精品精品无码专区|国产在线无码精品电影网|午夜无码久久久久久国产|亚洲国产精品一区二区动图|国产在线精品一区在线观看|欧美伊人久久久久久久久影院|中文字幕日韩av在线一区二区

合肥金星智控科技股份有限公司
宣傳

位置:中冶有色 >

有色技術頻道 >

> 失效分析技術

> 帶冗余單元的存儲器芯片的晶圓測試方法

帶冗余單元的存儲器芯片的晶圓測試方法

667   編輯:管理員   來源:中冶有色技術網(wǎng)  
2023-03-19 09:00:19
本發(fā)明公開了一種帶冗余單元的存儲器芯片的晶圓測試方法,包括步驟:步驟一、根據(jù)晶圓上存儲器芯片的主區(qū)域的陣列結構和冗余單元的結構設置存儲器測試機中的存儲失效地址的存儲器的行地址和列地址的長度;步驟二、對芯片單元進行測試,并將每一行的測試結果進行或運算后存儲到行地址相同的存儲失效地址的存儲器中;步驟三、讀取存儲失效地址的存儲器中的各行的內容得出失效的行數(shù)以及行地址;步驟四、判斷存儲器芯片的主區(qū)域的各失效的行能否修復,如能則分配冗余單元替換存儲器芯片的主區(qū)域的失效行。本發(fā)明能有效減少測試時間,降低測試成本。
聲明:
“帶冗余單元的存儲器芯片的晶圓測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
分享 0
         
舉報 0
收藏 0
反對 0
點贊 0
標簽:
失效分析
全國熱門有色金屬技術推薦
展開更多 +

 

中冶有色技術平臺

最新更新技術

報名參會
更多+

報告下載

第二屆中國微細粒礦物選礦技術大會
推廣

熱門技術
更多+

衡水宏運壓濾機有限公司
宣傳
環(huán)磨科技控股(集團)有限公司
宣傳

發(fā)布

在線客服

公眾號

電話

頂部
咨詢電話:
010-88793500-807
專利人/作者信息登記