本發(fā)明涉及固態(tài)硬盤耐久度測試領域,具體公開一種固態(tài)硬盤耐久度測試方法、樣本量計算方法及裝置,提取固態(tài)硬盤的功能失效率和不可糾正錯誤率;基于信心上限控制函數(shù)創(chuàng)建以功能失效率為影響因子的功能失效錯誤與樣本量關系模型,以及以不可糾正錯誤率為影響因子的數(shù)據(jù)錯誤與樣本量關系模型;確定耐久度測試的標準功能失效錯誤,將該標準功能失效錯誤代入功能失效錯誤與樣本量關系模型,獲得第一樣本量;將第一樣本量下的信心上限控制函數(shù)值代入數(shù)據(jù)錯誤與樣本量關系模型,獲得第二樣本量;在第一樣本量和第二樣本量中,選取較大的樣本量為測試樣本量。本發(fā)明在保證測試質量的同時,提高測試樣本量的精確度及測試效率,進而顯著節(jié)省研發(fā)成本。
聲明:
“固態(tài)硬盤耐久度測試方法、樣本量計算方法及裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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