本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N測(cè)試結(jié)構(gòu)，該測(cè)試結(jié)構(gòu)不包括開關(guān)，該測(cè)試結(jié)構(gòu)包括：待測(cè)試結(jié)構(gòu)，包括多個(gè)依次串聯(lián)的待測(cè)試器件組，各待測(cè)試器件組包括多個(gè)并聯(lián)的待測(cè)試的阻變器件；兩個(gè)測(cè)試電極，分別為第一測(cè)試電極和第二測(cè)試電極，第一測(cè)試電極與待測(cè)試結(jié)構(gòu)的一端電連接，第二測(cè)試電極與待測(cè)試結(jié)構(gòu)的另一端電連接，從而同時(shí)檢查多個(gè)待測(cè)試的阻變器件，提高了測(cè)試效率，并且測(cè)試結(jié)構(gòu)不包括開關(guān)，降低了測(cè)試成本，并且一個(gè)待測(cè)試的阻變器件失效會(huì)導(dǎo)致待測(cè)試結(jié)構(gòu)的阻值大幅降低，使得測(cè)試結(jié)構(gòu)對(duì)機(jī)臺(tái)精度要求低，進(jìn)而解決了現(xiàn)有技術(shù)中的測(cè)試MTJ的方法難以同時(shí)達(dá)到測(cè)試效率高、測(cè)試成本較低且對(duì)機(jī)臺(tái)精度要求低的問題。