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晶圓的測試方法

966   編輯:管理員   來源:中冶有色技術(shù)網(wǎng)  
2023-03-19 09:00:17
本發(fā)明提供了一種晶圓的測試方法,包括L1:對所述芯片進(jìn)行測試項(xiàng)目i(1≤i≤n)的檢測,并判斷所述芯片是否通過測試;L2:若所述芯片通過測試,所述晶圓測試機(jī)進(jìn)行臺階掉電和臺階上電,并執(zhí)行步驟L3,若所述芯片未通過測試,結(jié)束測試,所述晶圓不合格;L3:判斷i是否等于n,若i等于n,結(jié)束測試,所述晶圓合格,若i不等于n,取i=i+1,執(zhí)行步驟L1。所述晶圓測試機(jī)進(jìn)行臺階掉電和臺階上電,避免了因芯片應(yīng)答慢而出現(xiàn)測試失效的情況,解決了芯片過宰的問題,提升了測試穩(wěn)定性,避免了探針卡上電容對芯片的充放電效應(yīng),提高了產(chǎn)品良率,并且沒有增加任何成本。
聲明:
“晶圓的測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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