本發(fā)明公開了一種SRAM自測試系統、架構及方法、存儲介質,通過利用FPGA中的邏輯資源設置一個SRAM自測試架構對SRAM進行自檢測,有效且合理地利用FPGA中豐富的邏輯資源,無需另外的定制電路。同時,該自測試架構是可以同時兼容多種SRAM測試算法,并根據實際情況靈活地變動測試算法,及時地對測試算法進行升級更新,也可以通過變動架構中的部分模塊來產生更多針對特定類型失效模型fault的結構化測試。在不同的FPGA產品間,該架構的可移植性良好,代碼維護成本低。在實際的
芯片的量產過程中,這種BIST的測試通過運行多種SRAM測試算法,可以有效且低成本地第一時間篩去具有SRAM缺陷的FPGA。
聲明:
“SRAM自測試系統、架構及方法、存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)