本發(fā)明公開了可以實(shí)現(xiàn)溫控的集LED漏電流與抗靜電能力測(cè)試于一體的檢測(cè)方案。本發(fā)明采用TLP測(cè)試系統(tǒng)測(cè)量漏電流,并引入恒溫鼓風(fēng)干燥箱控制箱實(shí)現(xiàn)溫控調(diào)節(jié),同時(shí)消除了空氣中的濕度可能對(duì)靜電測(cè)試結(jié)果的影響。采用本發(fā)明所述方法,既能利用TLP模型測(cè)量各個(gè)溫度下通過LED的漏電流,反映出LED
芯片的質(zhì)量高低,又可以產(chǎn)生幅度連續(xù)可調(diào)的矩形短脈沖進(jìn)行LED芯片的抗靜電能力檢測(cè),說明器件存在的一些潛在失效機(jī)理。
聲明:
“發(fā)光二極管漏電流測(cè)試方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)