一種掃描電鏡中單根納米線原位力學(xué)綜合性能測(cè)試裝置及方法,屬于納米材料性能原位檢測(cè)領(lǐng)域。該發(fā)明通過(guò)設(shè)計(jì)粗調(diào)位移平臺(tái)、壓電陶瓷拉伸單元和微懸臂梁力學(xué)檢測(cè)系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)對(duì)納米線的彈性,塑性和斷裂過(guò)程的力學(xué)性能定量測(cè)量,也可以對(duì)納米線進(jìn)行電學(xué)性能測(cè)量。利用掃描電子顯微鏡成像系統(tǒng)原位實(shí)時(shí)記錄納米線在力場(chǎng)和電場(chǎng)作用下彈塑性變形過(guò)程、斷裂失效的方式以及電荷傳輸特性,將納米線的力學(xué)性能,電學(xué)性能,力學(xué)和電學(xué)耦合性能以及微觀結(jié)構(gòu)變化直接對(duì)應(yīng)起來(lái),從納米尺度上揭示一維納米線的綜合性能。本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,便于操作,應(yīng)用范圍廣,具有直觀性和定量檢測(cè)的特性,便于解釋和發(fā)現(xiàn)納米材料優(yōu)異的力學(xué)等綜合性能。