本發(fā)明提供一種激光二極管陣列的老化篩選測(cè)試系統(tǒng)及方法，包括激光二極管陣列驅(qū)動(dòng)模塊、溫度控制模塊、老化模塊、篩選測(cè)試模塊和用于控制激光二極管陣列的工作條件并采集、記錄篩選測(cè)試模塊測(cè)試結(jié)果的計(jì)算機(jī)控制采集模塊，篩選測(cè)試模塊包括電光特性測(cè)試模塊、光譜測(cè)試模塊、遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試模塊、近場(chǎng)測(cè)試模塊和鏡檢模塊。本發(fā)明包含近場(chǎng)發(fā)光點(diǎn)測(cè)試及鏡檢測(cè)試功能及激光二極管陣列老化后的測(cè)試篩選，實(shí)現(xiàn)了激光二極管陣列的全參數(shù)篩選測(cè)試，并且通過(guò)老化測(cè)試，對(duì)老化前后的激光二極管陣列電光特性、光譜、遠(yuǎn)場(chǎng)、近場(chǎng)發(fā)光點(diǎn)及發(fā)光面的膜層鏡檢，可以盡早發(fā)現(xiàn)激光二極管陣列缺陷，排除激光二極管陣列早期失效問(wèn)題，提高星載領(lǐng)域的激光二極管陣列的穩(wěn)定性。