本發(fā)明公開了一種基于
芯片電磁兼容測試的復位方法、裝置及系統(tǒng),該方法包括:當完成電磁兼容測試,被測芯片失效時,進行初始化配置;在完成初始化配置后,檢測是否接收到上位機的復位控制指令;當接收到上位機的復位控制指令時,根據所述復位控制指令,獲取被測芯片復位所需的復位通道、復位持續(xù)時間和復位電壓值;根據所述復位通道、所述復位持續(xù)時間和所述復位電壓值,向被測芯片輸出復位控制信號。采用本發(fā)明實施例,通過判斷并接收上位機的復位控制指令,實現(xiàn)對被測芯片對應的復位通道,按復位持續(xù)時間和復位電壓值輸出復位控制信號,以使被測芯片滿足復位條件,實現(xiàn)針對需要通過控制引腳恢復的失效芯片的自動復位。
聲明:
“基于芯片電磁兼容測試的復位方法、裝置及系統(tǒng)” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)