本發(fā)明涉及一種基于紫外成像數(shù)字圖像相關(guān)方法(DIC)的超高溫多尺度多功能應(yīng)變測量系統(tǒng)及測量方法,該應(yīng)變測量系統(tǒng)包括紫外相機(jī)(1和5)、同軸長工作距離顯微鏡頭(7和15)、單色光源(2)、與單色光源波長對應(yīng)的窄帶通濾波片(6和16)、在試驗(yàn)件表面制作耐高溫散斑或者使用摩擦劃痕斑點(diǎn)(自然散斑失效時(shí)),利用高溫圖像觀察爐和配套的高溫力學(xué)測試裝置對被測矩形截面或圓柱面試驗(yàn)件施加力、熱載荷,采用同軸紫外光主動(dòng)照明試驗(yàn)件,并用該基于紫外成像DIC的超高溫多尺度多功能應(yīng)變測量系統(tǒng)采集試驗(yàn)件表面圖像,利用數(shù)字圖像相關(guān)方法對試驗(yàn)件表面的應(yīng)變進(jìn)行高精度實(shí)時(shí)毫米到微米級視場的二維或三維測量。該發(fā)明原理簡單、結(jié)構(gòu)緊湊,采用高溫圖像爐和高溫拉伸裝置配合對從室溫到2000℃超高溫環(huán)境下的試驗(yàn)件表面的變形和力學(xué)性能進(jìn)行實(shí)時(shí)、高精度測量。
聲明:
“基于紫外成像DIC的超高溫多尺度多功能應(yīng)變測量系統(tǒng)及測量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)