本發(fā)明是一種結(jié)合軟件可靠性測(cè)試與硬件可靠性試驗(yàn)的聯(lián)合試驗(yàn)方法，用于軟硬件系統(tǒng)可靠性測(cè)試。本方法分析軟硬件系統(tǒng)，構(gòu)造硬件可靠性試驗(yàn)剖面和軟件可靠性測(cè)試剖面；軟、硬件場(chǎng)景正交獲得系統(tǒng)任務(wù)場(chǎng)景，并確定系統(tǒng)任務(wù)場(chǎng)景執(zhí)行概率；建立軟件可靠性測(cè)試剖面和硬件場(chǎng)景剖面是否關(guān)聯(lián)的關(guān)系矩陣；對(duì)每個(gè)系統(tǒng)任務(wù)場(chǎng)景，結(jié)合硬件環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)剖面和相關(guān)聯(lián)的軟件可靠性測(cè)試剖面生成階段子剖面；同一系統(tǒng)任務(wù)的階段子剖面組織成為一個(gè)周期子剖面，將周期子剖面按照試驗(yàn)循環(huán)周期組織生成最終的聯(lián)合試驗(yàn)剖面；根據(jù)聯(lián)合試驗(yàn)剖面生成試驗(yàn)用例進(jìn)行試驗(yàn)。本發(fā)明試驗(yàn)結(jié)果能更準(zhǔn)確地進(jìn)行系統(tǒng)可靠性鑒定，能發(fā)現(xiàn)傳統(tǒng)的可靠性試驗(yàn)中不能發(fā)現(xiàn)的系統(tǒng)失效。