一種基于最小二乘支持向量機(jī)的晶體諧振器貯存壽命預(yù)測(cè)方法，該方法有四大步驟：步驟一：分析晶體諧振器在長(zhǎng)期貯存過(guò)程中退化機(jī)理，獲得主要退化機(jī)理對(duì)參數(shù)變化的影響，確定晶體諧振器的退化敏感參數(shù)；步驟二：設(shè)計(jì)并開(kāi)展晶體諧振器加速貯存退化試驗(yàn)，對(duì)選定的敏感參數(shù)進(jìn)行測(cè)量，定期采集試驗(yàn)數(shù)據(jù)；步驟三：利用最小二乘支持向量機(jī)理論處理試驗(yàn)數(shù)據(jù)，建立在不同加速應(yīng)力水平下該敏感參數(shù)的退化模型；步驟四：建立正常應(yīng)力下的晶體諧振器參數(shù)退化模型，確定失效判據(jù)，預(yù)測(cè)晶體諧振器的貯存壽命。本發(fā)明解決了在預(yù)測(cè)晶體諧振器貯存壽命時(shí)遇到的小樣本、非線性等實(shí)際問(wèn)題，簡(jiǎn)化了計(jì)算的復(fù)雜性，提高了收斂速度和精度，具有較高的推廣價(jià)值。