本發(fā)明適用于電子產(chǎn)品的測試技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種低溫測試裝置及測試方法。上述低溫測試裝置包括制冷劑供應(yīng)裝置、容器和溫度探測裝置,所述容器通過輸入管連接于所述制冷劑供應(yīng)裝置,所述容器上還連接有與外界相通的輸出管。上述測試方法包括以下步驟,將容器的底部抵壓于待測試的器件上;制冷劑供應(yīng)裝置通過輸入管將制冷劑輸入容器中,增大制冷劑的流量進(jìn)一步降低待測試器件的溫度,直到所述器件失效并記錄所述器件失效時溫度探測裝置讀取的溫度。本發(fā)明所提供一種低溫測試裝置及測試方法,其可以有效、方便、準(zhǔn)確地對局部器件進(jìn)行低溫可靠性測試,測試精確度佳。
聲明:
“低溫測試裝置及測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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