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IGBT開關(guān)特性測試電路及測試方法

926   編輯:管理員   來源:中冶有色技術(shù)網(wǎng)  
2023-03-19 09:00:13
本發(fā)明公開了一種IGBT開關(guān)特性測試電路及測試方法,測試電路包括負(fù)載電感電路和直流母線電源,所述直流母線電源與所述負(fù)載電感電路以及被測IGBT器件串聯(lián);第一開關(guān)器件,連接在所述直流母線電源的正極與所述負(fù)載電感電路的輸出端之間,用于切斷或者接通直流母線;電阻R1,第一端連接所述第一開關(guān)器件的低壓端,第二端與負(fù)載電感電路的輸入端連接,用于在所述被測IGBT器件和/或所述第一開關(guān)器件和/或所述負(fù)載電感電路失效時(shí),吸收所述直流母線電源的電量。本發(fā)明通過增加了第一開關(guān)器件和電阻R1,實(shí)現(xiàn)器件測試完成后切斷直流母線電容能量釋放通道,以及吸收直流母線釋放的能量,降低器件失效后燒毀程度,防止失效器件爆炸。
聲明:
“IGBT開關(guān)特性測試電路及測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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