本發(fā)明涉及測試裝置技術(shù)領(lǐng)域,特別地涉及一種測試座以及測試設(shè)備。本發(fā)明提供的測試座,測試座包括第一測試座板、第二測試座板、第一密封件、第二密封件以及支撐框。第一測試座板、第二測試座板以及支撐框構(gòu)成密封空腔,同時,分別在第一測試座板以及第二測試座板的外側(cè)設(shè)置第一密封件以及第二密封件,進(jìn)一步加強(qiáng)密封空腔的密封性能。故可有效地將外界環(huán)境與測試座內(nèi)部隔離,使得處于密封空腔內(nèi)的探針等測試元件處于密封的環(huán)境中,使得本申請?zhí)峁┑臏y試座在鹽霧、塵土環(huán)境條件下的檢測時,可有效地保護(hù)密封空腔內(nèi)的探針等測試元件,避免機(jī)械零部件腐蝕、磨損失效,避免電路短路或斷路,進(jìn)而提高
芯片的測試精度。
聲明:
“測試座以及測試設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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