本發(fā)明公開了一種提高Serdes?IP晶圓測試效率的方法，包括以下步驟：S10：對晶圓測試的MAP圖進(jìn)行實(shí)時(shí)讀取，記錄相應(yīng)坐標(biāo)、測試結(jié)果以及失效分類信息；S20：分析是否存在某個(gè)site測試明顯比其他site失效要多，或者某個(gè)site有連續(xù)的失效，若存在，則一旦site間差異失效數(shù)或連續(xù)失效數(shù)超出預(yù)設(shè)數(shù)量時(shí)進(jìn)行該項(xiàng)目失效報(bào)警；S30：針對區(qū)域失效的特點(diǎn)，設(shè)計(jì)相應(yīng)的算法完成統(tǒng)計(jì)，通過該方法的實(shí)現(xiàn)可以自動(dòng)快速的對測試結(jié)果進(jìn)行分析，針對Serdes?IP對測試硬件較敏感的特性，能夠及早的發(fā)現(xiàn)并排除隱患，減少誤測，以及對區(qū)域失效能快速的提取分析，大大減少人工數(shù)據(jù)分析的工作量，提高Serdes?IP晶圓測試生產(chǎn)的效率。