本發(fā)明提供一種測(cè)試結(jié)構(gòu)及測(cè)試方法,測(cè)試結(jié)構(gòu)包括:多條射頻鏈路,各所述射頻鏈路均包括多個(gè)焊點(diǎn)以及位于相鄰焊點(diǎn)之間與焊點(diǎn)相連接的傳輸線;不同所述射頻鏈路中至少一處對(duì)應(yīng)的所述傳輸線的長(zhǎng)度不同。對(duì)測(cè)試結(jié)構(gòu)中的各射頻鏈路進(jìn)行阻抗測(cè)試,以得到各射頻鏈路的阻抗?時(shí)間曲線,根據(jù)阻抗?時(shí)間曲線和各射頻鏈路的結(jié)構(gòu)可以識(shí)別出長(zhǎng)度不同的傳輸線,從而識(shí)別出各射頻鏈路中的焊點(diǎn)和傳輸線,如果此時(shí)有射頻鏈路中存在失效點(diǎn),由于焊點(diǎn)和傳輸線已經(jīng)識(shí)別出來(lái),就可以實(shí)現(xiàn)對(duì)失效點(diǎn)的精確定位,準(zhǔn)確分析器件失效位置,滿足新型射頻器件研制以及應(yīng)用可靠性研究需求。
聲明:
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