一種三態(tài)內容可尋址存儲器的測試電路,包括掃描鏈、向量生成電路、TCAM陣列模塊、優(yōu)先級編碼器、測試結果分析電路和修復電路,掃描鏈將測試圖形輸入到優(yōu)先級編碼器輸入端,向量生成電路提供各種測試圖形給TCAM陣列和優(yōu)先級編碼器,測試結果分析電路通過分析優(yōu)先級編碼器的輸出信號來完成測試和故障定位,修復電路則根據(jù)向量分析電路得出的故障定位信息來修復失效的單元。本發(fā)明還公開了利用上述測試電路來修復可尋址存儲器的方法,通過插入向量生成電路,掃描鏈,分析優(yōu)先級比較器的輸出信號,先后完成優(yōu)先級比較器測試,搜索不匹配測試和搜索匹配測試,并能對失效單元進行定位,完成電路的修復。
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“三態(tài)內容可尋址存儲器的測試電路及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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