本發(fā)明公開了一種通信
芯片的檢測方法,包括,步驟A:讀取被測通信芯片中的ID信息,分別檢查被測通信芯片與供電電源的接觸是否正常,通信芯片與信號發(fā)生單元的通訊是否正常;步驟B:讀取供電電源的輸出電流,并與理論電流進行比較;步驟C:運用信號發(fā)生單元,對通信芯片執(zhí)行讀寫操作,以檢測通信芯片的讀寫功能是否正常;步驟D:通過被測通信芯片按設定算法執(zhí)行的結果,去判斷通信芯片的內部寄存器是否失效;步驟E:通過信號發(fā)生單元對通信芯片輸入功能信號,并判斷通信芯片輸出的功能數(shù)據是否與期望數(shù)據一致。其能通過信號發(fā)生單元輸入功能信號對通信芯片進行功能測試,而能全面的檢測通信芯片的性能。
聲明:
“通信芯片的檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)