本發(fā)明公開了一種對相變存儲器單元相變能力的快速檢測方法,不需要使用開關(guān)單元,而是基于相變材料活化能特性,以及基于相變材料本征特性,通過各檢測步驟獲得了電阻漂移系數(shù)ν與剩余壽命N的關(guān)系,以及活化能E
σ與剩余壽命N的關(guān)系。通過測試與之相關(guān)聯(lián)的電阻漂移過程來判斷相變材料層的相變性能,不需要開關(guān)器件,而且測試過程始終為低的可讀電流,不會降低器件壽命??梢砸揽繉φ战M來判斷單元處于何種體質(zhì)階段,距離失效還有多遠(yuǎn),而無需完整測試整個失效過程,大為減少測試時間。
聲明:
“對相變存儲器單元相變能力的快速檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)