本發(fā)明提供一種基于傳輸延遲的高速光耦貯存可靠性評價方法,步驟如下:一:測量所有高速光耦器件的傳輸延遲時間,完成器件初篩;二:將器件樣品按不同貯存溫度分為四組;三:開展高溫貯存試驗,間隔一周對樣品測試,記錄傳輸延遲時間及失效情況;四:高溫貯存試驗結(jié)束,根據(jù)傳輸延遲時間的退化軌跡對試驗數(shù)據(jù)進行預(yù)處理;五:計算各樣品器件在高溫貯存試驗中的預(yù)期壽命;六:將各樣品器件在高溫貯存試驗中的預(yù)期壽命換算至25℃貯存的器件偽壽命;七:計算全體樣品的平均偽壽命,可得總批次器件的偽壽命,用于評價該批次器件的貯存可靠性。通過以上步驟,可以利用傳輸延遲時間評價高速光耦的貯存可靠性;對傳輸延遲時間進行測試,可得到高速光耦的高溫貯存退化模型與各樣品、總批次偽壽命情況。
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