本發(fā)明屬于電機(jī)驅(qū)動(dòng)控制技術(shù)領(lǐng)域，提供了一種電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的ADC采樣故障檢測(cè)方法。該方法是在一次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)通過ADC采樣模塊采集獲取微處理器中的內(nèi)部實(shí)際溫度和內(nèi)部實(shí)際參考電壓，通過將內(nèi)部實(shí)際溫度和內(nèi)部實(shí)際參考電壓分別與微處理器本身的預(yù)設(shè)值比較，來判斷ADC采樣是否失效，實(shí)現(xiàn)了在一定PWM中斷頻率下、對(duì)adc采樣故障的周期性檢測(cè)，從而能及時(shí)發(fā)現(xiàn)ADC采樣模塊的故障情況并對(duì)電機(jī)采取保護(hù)，提高了電機(jī)控制系統(tǒng)運(yùn)行的可靠性。再有，由于是采用優(yōu)先級(jí)僅次于ADC采樣中斷的PWM中斷作為主中斷，可避免PWM中斷的時(shí)間內(nèi)、故障檢測(cè)程序被可能的其它中斷干擾而造成檢測(cè)失效。