本發(fā)明涉及電子器件輻射效應領(lǐng)域,特別是涉及一種大氣中子下FPGA單粒子效應檢測數(shù)據(jù)區(qū)分方法和系統(tǒng),通過對FPGA器件進行大氣中子單粒子效應實時檢測,獲取所述FPGA器件的總失效率;獲取所述FPGA器件由阿爾法粒子導致的第一失效率;獲取所述FPGA器件由熱中子導致的第二失效率;根據(jù)所述總失效率、所述第一失效率和所述第二失效率獲取所述FPGA器件由大氣中子導致的目標失效率。本方案可區(qū)分FPGA器件大氣中子單粒子效應實時測量試驗數(shù)據(jù)中阿爾法粒子、熱中子和大氣中子三種成份各自的貢獻,從而獲得大氣中子導致的FPGA器件單粒子效應失效率,從而提高FPGA器件大氣中子單粒子效應敏感性的定量評價結(jié)果的準確性。 1
聲明:
“大氣中子下FPGA單粒子效應檢測數(shù)據(jù)區(qū)分方法和系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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