一種
芯片檢測(cè)方法,包括,根據(jù)芯片中所有邏輯單元的數(shù)量、檢測(cè)芯片所有邏輯單元時(shí)允許失效的邏輯單元的數(shù)量以及作為本批次檢測(cè)樣本的芯片數(shù)量,獲得達(dá)到本批次芯片檢測(cè)要求的單個(gè)芯片邏輯單元的失效概率;保持作為檢測(cè)樣本的芯片數(shù)量不變,根據(jù)所述單個(gè)芯片邏輯單元的失效概率獲得能夠達(dá)到本批次芯片檢測(cè)要求的單個(gè)芯片中邏輯單元的檢測(cè)數(shù)及對(duì)應(yīng)的允許失效的邏輯單元的數(shù)量的檢測(cè)數(shù)據(jù);選取具有最少邏輯單元檢測(cè)數(shù)及對(duì)應(yīng)允許失效邏輯單元數(shù)量的一組檢測(cè)數(shù)據(jù),來(lái)對(duì)芯片進(jìn)行檢測(cè)。所述芯片檢測(cè)方法節(jié)省了檢測(cè)時(shí)間,并且使得芯片產(chǎn)品大規(guī)模生產(chǎn)的時(shí)間提前,從而提高了代工廠芯片的生產(chǎn)效率。
聲明:
“芯片檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)