本發(fā)明公開了一種檢測集成電路的測試探針卡,其探針座上成型有探針孔,探針孔內(nèi)插接有探針,探針包括中部的止擋部,止擋部的上端面檢測桿,檢測桿的上端露出探針座的上端面,止擋部的下端成型有螺柱,螺柱上螺接有上永磁體,上永磁體的下側(cè)的探針座探針孔內(nèi)插接有下永磁體,下永磁體上端面的磁極和上永磁體下端面的磁極相同;探針座探針孔的側(cè)壁上成型有凹槽,探針座凹槽內(nèi)插接有豎直的導(dǎo)電片,導(dǎo)電片的上端成型有圓弧形的彈性部,彈性部壓靠在探針的止擋部上,彈性部的下端彎折成型有連接部,連接部通過導(dǎo)電螺釘和下永磁體相連接導(dǎo)電螺釘?shù)挚吭跈z測電路板上。它結(jié)構(gòu)簡單,制造及組裝方便,能避免因彈簧機械疲勞失效而造成的接觸不良。
聲明:
“檢測集成電路的測試探針卡” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)