本發(fā)明公開一種觸摸屏成像的檢測(cè)方法;解決的問(wèn)題針對(duì)現(xiàn)有電容式觸摸屏的功能片主要是依靠對(duì)ITO鍍層進(jìn)行圖案設(shè)計(jì)從而實(shí)現(xiàn)觸控功能,該ITO鍍層在加工制作或者客戶使用不當(dāng)過(guò)程中容易造成損壞,在以往的失效分析過(guò)程中,在不破壞產(chǎn)品的情況下,分析止步于位置判定,不能對(duì)圖形原像進(jìn)行清晰呈現(xiàn),降低分析效率和數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)水平的技術(shù)問(wèn)題。采取方案檢測(cè)方法包括步驟1、將觸摸屏置于貼合臺(tái)面上;2、在蓋板上全覆蓋抗環(huán)境光干擾材料層;3、取出觸摸屏;4、將觸摸屏置于顯微鏡臺(tái)面上;5、環(huán)境光進(jìn)入觸摸屏;6、成像。優(yōu)點(diǎn)加強(qiáng)對(duì)觸摸電容屏ITO層的原像對(duì)比,減少對(duì)顯微鏡儀器技術(shù)發(fā)展的依賴,降低檢測(cè)成本,滿足電容屏行業(yè)技術(shù)發(fā)展需求。
聲明:
“觸摸屏成像的檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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