本發(fā)明公開了一種基于多層感知器神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的電路良率分析方法,包括步驟:一、均勻分布采樣:針對電路器件的各項工藝變化參數(shù),采用均勻分布采樣的方法得到總量樣本;二、蒙特卡羅仿真:采用蒙特卡洛仿真方法對總量樣本進(jìn)行電路仿真,獲得電路失效樣本;三、重要性采樣:統(tǒng)計電路失效樣本各參數(shù)的均值,并將其作為電路失效區(qū)域的中心點(diǎn),以該點(diǎn)為原點(diǎn)在電路失效區(qū)域進(jìn)行高斯分布采樣得到重要樣本;四、多層感知器神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)篩選:將重要樣本輸入預(yù)先訓(xùn)練好的多層感知器神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行篩選,得到電路失效的采樣點(diǎn);五、電路良率計算:采用重要性采樣公式計算出電路良率。本發(fā)明能夠提供快速且準(zhǔn)確的良率驗證分析,在縮短項目周期的同時提升產(chǎn)品可靠性。
聲明:
“基于多層感知器神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的電路良率分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)